軍用電子元器件射線(xiàn)累積劑量效應(yīng)測(cè)量方法
本專(zhuān)題涉及軍用電子元器件射線(xiàn)累積劑量效應(yīng)測(cè)量方法的標(biāo)準(zhǔn)有3條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，軍用電子元器件射線(xiàn)累積劑量效應(yīng)測(cè)量方法涉及到。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，軍用電子元器件射線(xiàn)累積劑量效應(yīng)測(cè)量方法涉及到電子元件綜合。
國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于軍用電子元器件射線(xiàn)累積劑量效應(yīng)測(cè)量方法的標(biāo)準(zhǔn)
- GJB 5814-2006 軍用電子器件X射線(xiàn)劑量增強(qiáng)效應(yīng)測(cè)量方法
- GJB 9397-2018 軍用電子元器件中子輻射效應(yīng)試驗(yàn)方法
- GJB 7350-2011 軍用電子器件脈沖γ射線(xiàn)效應(yīng)試驗(yàn)方法
