在航空航天領(lǐng)域高精度光學(xué)部件的Freeform（自由曲面）技術(shù)首次用在了原子光譜領(lǐng)域。Agilent 5800 ICP-OES基于Freeform技術(shù)的準(zhǔn)直鏡設(shè)計(jì)， 極大地提升了光學(xué)成像的質(zhì)量，消除了邊緣效應(yīng)和像散像差,使ICP儀器進(jìn)一步小型化，集成化，儀器的穩(wěn)定性以及性能也得到了快速的提升。
Agilent 5800 ICP-OES 儀器是一款專為業(yè)務(wù)繁忙的實(shí)驗(yàn)室而設(shè)計(jì)的光譜儀，旨在幫助實(shí)驗(yàn)室奪回浪費(fèi)的時(shí)間。憑借功能強(qiáng)大的 ICP-OES 軟件以及包含眾多內(nèi)置傳感器、智能算法和診斷功能的智能化監(jiān)控體系，您可以在故障發(fā)生之前發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，從而最大程度延長(zhǎng)正常運(yùn)行時(shí)間并最大程度減少需要重新測(cè)定的樣品數(shù)量。 [更多]
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在航空航天領(lǐng)域高精度光學(xué)部件的Freeform（自由曲面）技術(shù)首次用在了原子光譜領(lǐng)域。Agilent 5800 ICP-OES基于Freeform技術(shù)的準(zhǔn)直鏡設(shè)計(jì)其特殊的表面曲率極大程度上消除了像散和聚焦的邊緣效應(yīng)，獲得更低檢出限，以及更卓越的分辨率。
內(nèi)置眾多強(qiáng)大的傳感處理器，結(jié)合智能算法和診斷功能，能夠?qū)崿F(xiàn)自我診斷和故障排除、預(yù)警、實(shí)現(xiàn)主動(dòng)維護(hù)，以及識(shí)別可能影響結(jié)果的潛在問(wèn)題。
自動(dòng)光譜干擾鑒別、樣品元素組分餅圖、周期表熱圖等一系列智能工具，可實(shí)現(xiàn)使用者對(duì)樣品的極大洞察力，針對(duì)每一樣品獲得更加有效地QC，最大程度上減少用戶因樣品重復(fù)測(cè)試所花費(fèi)的大量時(shí)間。
自從5100系列開始，安捷倫垂直炬管-同步雙向觀測(cè)設(shè)計(jì)一直引領(lǐng)市場(chǎng)，在實(shí)現(xiàn)同步雙向觀測(cè)的同時(shí)，還使觀測(cè)的方式得到了更新，可實(shí)現(xiàn)一次觀測(cè)讀取完成整個(gè)全譜波段的分析測(cè)量，同時(shí)可根據(jù)長(zhǎng)短波譜線的分析特點(diǎn)，自動(dòng)分配讀取方式。實(shí)現(xiàn)了一次分析全譜的檢測(cè)。憑借這一獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì)，當(dāng)年獲得了R&D100技術(shù)發(fā)明大獎(jiǎng)。
