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JJG(教委) 12-1992
透射電子顯微鏡檢定規(guī)程

Calibration Regulations for Transmission Electron Microscopy

標(biāo)準(zhǔn)號: JJG(教委) 12-1992
發(fā)布: 1992年
發(fā)布單位: 國家計(jì)量檢定規(guī)程

專題

透射電子顯微鏡2 透射電子顯微鏡場透射電鏡多少倍透射電子顯微鏡 2周透射電子顯微鏡與透射2電子顯微鏡透射電鏡的電子透射電子顯微鏡樣品盒場透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡的襯度透射電子顯微鏡樣品要求透射電鏡30倍

JJG(教委) 12-1992相似標(biāo)準(zhǔn)

JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則 JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術(shù)條件 JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡試驗(yàn)方法 T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準(zhǔn)方法

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透射電子顯微鏡

　　 1、基本原理　　在光學(xué)顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)（submicroscopic structures）或超微結(jié)構(gòu)（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源...

透射電子顯微鏡概述

　　透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的...

透射電子顯微鏡簡介

　　電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標(biāo)本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機(jī)（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數(shù)最高可達(dá)近百萬倍、由照明系統(tǒng)、成像系統(tǒng)...

透射電子顯微鏡背景

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如...

JJG(教委) 12-1992 中可能用到的儀器設(shè)備

透射電鏡TEM 電鏡附件及外設(shè) 包埋機(jī)

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