ASTM C1605-04(2009)
使用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法進(jìn)行白色陶瓷材料化學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

Standard Test Methods for Chemical Analysis of Ceramic Whiteware Materials Using Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM C1605-04(2009)

發(fā)布

2004年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM C1605-04(2014)

當(dāng)前最新

ASTM C1605-04(2014)

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ASTM C242 ASTM C322 ASTM C323

適用范圍

1.1 本測(cè)試方法涵蓋了陶瓷白瓷粘土和礦物中十種主要元素（SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、TiO2、P2O5、MnO和LOI）的測(cè)定，采用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法（WDXRF） ）。首先將樣品點(diǎn)燃，然后與四硼酸鋰熔融，并將所得玻璃盤引入波長(zhǎng)色散 X 射線光譜儀中。用來自 X 射線管的 X 射線照射該盤。由使用先前準(zhǔn)備的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)樣品中的元素進(jìn)行計(jì)數(shù)并確定濃度。(1) 除了 10 種主要元素外，該方法還提供重量燒失量。注釋 18212；此測(cè)試方法的大部分文本均源自直接來自波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法的主要元素分析，包括在參考文獻(xiàn) (1) 中。
1.2 通過 WDXRF 分析，干擾可能是由礦物學(xué)或其他結(jié)構(gòu)效應(yīng)、譜線重疊和基體效應(yīng)產(chǎn)生的。樣品的結(jié)構(gòu)，無論是礦物結(jié)構(gòu)還是其他結(jié)構(gòu)，都可以通過使用合適的助熔劑進(jìn)行熔合來消除。樣品的融合減少了基體效應(yīng)，并產(chǎn)生穩(wěn)定、平坦、均質(zhì)的樣品以呈現(xiàn)給光譜儀。選擇某些類型的晶體單色儀可以消除許多譜線重疊和多級(jí)譜線干擾。數(shù)學(xué)校正程序 (2) 用于校正吸收和增強(qiáng)矩陣效應(yīng)。
1.3 粘土和礦物中元素的濃度的測(cè)定與氧化態(tài)無關(guān)，并以它們最常出現(xiàn)在地殼中的氧化態(tài)進(jìn)行報(bào)告。

專題

ASTM C1605-04(2009)相似標(biāo)準(zhǔn)

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