(3)X射線熒光光譜法X射線熒光光譜法的檢測(cè)偏差來(lái)自樣品本身。在壓片制樣的測(cè)定過(guò)程中存在顆粒效應(yīng)、基質(zhì)效應(yīng)、礦物效應(yīng)等影響。即粉末樣品的顆粒細(xì)度不一致、所含元素不一致、所含礦物不一致,對(duì)檢測(cè)結(jié)果會(huì)帶來(lái)偏差。通過(guò)熔融法將待測(cè)樣品熔融成玻璃片進(jìn)行測(cè)定,可以消除這些效應(yīng),但是熔制樣片時(shí)降低了試樣的被檢濃度,而加入的熔劑也會(huì)引入新的成分,檢測(cè)時(shí)要避開(kāi)這些因素。...
同樣ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光譜法在樣品前處理過(guò)程中也常用大量化學(xué)試劑,造成環(huán)境污染。X射線熒光光譜法具有樣品前處理簡(jiǎn)單、分析周期短、重現(xiàn)性好、可同時(shí)測(cè)定多元素、測(cè)試成本低等優(yōu)點(diǎn)。由于XRF是表面分析技術(shù),X射線的強(qiáng)度隨著樣品的粒度和樣品不均勻而變化產(chǎn)生顆粒效應(yīng),地質(zhì)化探樣品成分復(fù)雜、組分含量低,樣品很難磨碎到500目以下,在粉末壓片XRF法中影響了測(cè)定的準(zhǔn)確度和精密度。...
傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法,操作過(guò)程繁瑣、分析周期長(zhǎng)、勞動(dòng)強(qiáng)度較大、分析結(jié)果受分析人員及各種試劑因素影響較大。X熒光光譜法具有制樣簡(jiǎn)便、分析速度快、重現(xiàn)性好、多元素組份同時(shí)分析和低成本等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用在硅酸鹽巖石分析中。以往X熒光采用粉末壓片的方法輔助化學(xué)法進(jìn)行分析、檢測(cè),由于粉末壓片的方法在分析時(shí)不可避免的存在著一定的粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng)的影響,因此對(duì)所得結(jié)果的精度影響較大。...
第三部分X射線熒光光譜法測(cè)定催化劑新材料的分析應(yīng)用第一章X射線熒光光譜法測(cè)定助催化劑中磷和鐵的研究使用X射線熒光光譜儀,采用人工合成標(biāo)樣,設(shè)計(jì)合成了一套磷和鐵總含量分別為0.15%-2.30%、0.20%-2.40%的標(biāo)準(zhǔn)樣品;采用數(shù)學(xué)校正法中的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正元素間的互相干擾,樣品不經(jīng)任何處理,粉末直接壓片,經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正基體效應(yīng),建立了分析測(cè)定助催化劑中磷和鐵含量的方法。...
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