ISO 11938:2012
微束分析. 電子探針微量分析. 使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ISO 11938:2012
- 發(fā)布
- 2012年
- 中文版
- GB/T 32055-2015 (等同采用的中文版本)
- 發(fā)布單位
- 國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 當(dāng)前最新
- ISO 11938:2012
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 14594 ISO 16592:2006 ISO 17470 ISO 22489 ISO 23833 ISO 5725-6 ISO/IEC 17025:2005
- 適用范圍
- 本國際標(biāo)準(zhǔn)提供了使用波長色散光譜法進(jìn)行電子微探針元素圖分析的程序。 評(píng)估電子束在樣本上以數(shù)字方式移動(dòng)的測繪（電子束測繪）和僅使用載物臺(tái)移動(dòng)的測繪（大面積測繪）之間的選擇。 它描述了五種數(shù)據(jù)處理類型：原始X射線強(qiáng)度數(shù)據(jù)法、k值法、校準(zhǔn)法、相關(guān)法和矩陣校正法。
專題
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