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小角X射線散射技術(shù)被廣泛用來測定納米粉末的粒度分布,其粒度分析結(jié)果所反映的既非晶粒亦非團(tuán)粒,而是一次顆粒的尺寸。在測定中參與散射的顆粒數(shù)一般高達(dá)數(shù)億個,因此,在統(tǒng)計上有充分的代表性。 通過對Guinier曲線低角區(qū)域線性部分的擬合,得到試樣中氧化鋁顆粒的旋轉(zhuǎn)半徑約為6nm,表明在無機(jī)納米雜化...
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