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ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法

Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods


ISO 3497:2000

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
ISO 3497:2000
發(fā)布
2000年
總頁數(shù)
24頁
中文版
GB/T 16921-2005 (等同采用的中文版本)
發(fā)布單位
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
當(dāng)前最新
ISO 3497:2000
 
 

警告 本國際標(biāo)準(zhǔn)不涉及有關(guān)人員 X 射線防護(hù)的問題。 有關(guān)這一重要方面的信息,應(yīng)參考現(xiàn)行國際和國家標(biāo)準(zhǔn)以及當(dāng)?shù)胤ㄒ?guī)(如果存在)。 1 本國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用 X 射線光譜法測量金屬涂層厚度的方法。 2 本國際標(biāo)準(zhǔn)適用的測量方法基本上是測定單位面積質(zhì)量的方法。 利用涂層材料密度的知識(shí),測量結(jié)果也可以表示為涂層的線性厚度。 3 測量方法允許同時(shí)測量最多三層的...


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