ASTM B808-05
用石英晶體微量天平監(jiān)測大氣腐蝕室的標準試驗方法

Standard Test Method for Monitoring of Atmospheric Corrosion Chambers by Quartz Crystal Microbalances

被代替

標準號

ASTM B808-05

發(fā)布

2005年

總頁數(shù)

4頁

發(fā)布單位

美國材料與試驗協(xié)會

替代標準

ASTM B808-10

當前最新

ASTM B808-10(2020)

 

 

適用范圍

可以使用 QCM 在連續(xù)、實時、原位的基礎上輕松測量厚度從單層原子到 1 μm 的腐蝕膜生長。該測試方法獲得的測試結果受到多種因素的影響，包括幾何效應、溫度、濕度、薄膜厚度、薄膜材料、電極條件、腐蝕室中的氣體、大氣壓力等。涂層晶體和儀器的校準以及可重復的晶體操作條件對于獲得一致的結果是必要的。
1.1 本測試方法監(jiān)測氣體測試環(huán)境的反應性，其中金屬表面（例如，電觸點、組裝印刷線路板等）和其他受污染氣體侵蝕的材料要經(jīng)過加速大氣腐蝕試驗。本試驗方法適用于總腐蝕膜厚度從幾個原子單層到大約一微米的附著腐蝕膜。
1.2 本試驗方法提供了一種動態(tài)、連續(xù)、原位的腐蝕室腐蝕速率監(jiān)測程序；腐蝕室的均勻性；以及不同表面的腐蝕速率。響應時間可以達到秒級。
1.3 使用適當?shù)臉悠?，石英晶體微量天平 (QCM) 測試方法也可用于監(jiān)測由于表面物質(zhì)解吸而導致的表面重量損失（即，氧化物在還原氣氛中的還原）。 （QCM 的替代名稱是石英晶體振蕩器、壓電晶體振蕩器或薄膜蒸發(fā)監(jiān)視器。） 1.4 該測試方法不足以指定腔室中可能發(fā)生的腐蝕過程，因為各種污染氣體和環(huán)境可能會導致類似的重量增加。
1.5 本測試方法一般不適用于固體或液體顆粒沉積在石英晶體表面的測試環(huán)境。
1.6 本標準并不旨在解決所有安全問題（如果有），與其使用相關。本標準的使用者有責任熟悉所有危險，包括制造商提供的該產(chǎn)品/材料的相應材料安全數(shù)據(jù)表中確定的危險，建立適當?shù)陌踩徒】祵嵺`，并確定該標準的適用性。使用前的監(jiān)管限制。
1.7 以 SI 單位表示的值應被視為標準。括號中的值僅供參考。

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