ASTM E925-09
光譜狹縫寬度不超過2nm的紫外線-可見光分光光度計(jì)的校準(zhǔn)監(jiān)測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

Standard Practice for Monitoring the Calibration of Ultraviolet-Visible Spectrophotometers whose Spectral Slit Width does not Exceed 2 nm

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E925-09

發(fā)布

2009年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E925-09(2014)

當(dāng)前最新

ASTM E925-09(2022)

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E131 ASTM E169 ASTM E1866 ASTM E275 ASTM E387 ISO/IEC 17025

適用范圍

這種做法允許分析人員將儀器的性能與制造商提供的性能規(guī)格進(jìn)行比較，并驗(yàn)證其是否適合持續(xù)日常使用。它還提供定期生成校準(zhǔn)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，形成儀器性能任何變化都將顯而易見的基礎(chǔ)。
1.1 該實(shí)踐涵蓋了分光光度性能參數(shù)，這些參數(shù)對(duì)于測(cè)試大多數(shù)儀器的充足性至關(guān)重要。常規(guī)測(cè)試和方法的波長(zhǎng)范圍為 200 至 700 nm，吸光度范圍為 0 至 2。推薦的測(cè)試提供了分光光度法中控制結(jié)果的重要參數(shù)的測(cè)量，但具體不應(yīng)推斷出影響分光光度法結(jié)果的所有因素。測(cè)量?jī)x器性能。
1.2 這種做法可用作光譜帶寬不超過 2 nm 且制造商的波長(zhǎng)和吸光度精度規(guī)格不超過此處采用的性能容差的儀器性能的重要測(cè)試。該實(shí)踐采用相對(duì)于 0.2 至 2.0 范圍內(nèi)的吸光度誤差的 1% 的說明性容差，以及波長(zhǎng)標(biāo)度誤差的 1.0 nm 的說明性容差。建議的最大雜散輻射功率比為 4 × 10-4 在吸光度為 2 時(shí)產(chǎn)生 <1 % 吸光度偏差。選擇這些公差是為了與許多化學(xué)應(yīng)用兼容，同時(shí)輕松超過參考材料的認(rèn)證值和典型制造商的規(guī)格的不確定性被測(cè)儀器的波長(zhǎng)和吸光度標(biāo)度的誤差。鼓勵(lì)用戶開發(fā)和使用更適合最終用途應(yīng)用要求的公差值。該程序旨在持續(xù)驗(yàn)證定量性能，并將一臺(tái)儀器的性能與其他類似裝置的性能進(jìn)行比較。請(qǐng)參閱練習(xí) E275 以廣泛評(píng)估儀器的性能。
1.3 這種做法應(yīng)定期進(jìn)行，其頻率取決于儀器使用的物理環(huán)境。因此，粗暴處理或在不利條件（暴露于灰塵、化學(xué)蒸汽、振動(dòng)或其組合）下使用的設(shè)備應(yīng)比未暴露于此類條件的設(shè)備更頻繁地進(jìn)行測(cè)試。在對(duì)設(shè)備進(jìn)行任何重大維修（例如涉及光學(xué)器件、探測(cè)器或輻射能源的維修）后也應(yīng)執(zhí)行此做法。
1.4 以 SI 單位表示的值應(yīng)被視為標(biāo)準(zhǔn)值。本標(biāo)準(zhǔn)不包含其他計(jì)量單位。
1.5 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。

專題

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