但是，熒光屏觀察法的靈敏度要低一些。由于它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來(lái)，它只能檢查較薄的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的工件?！ ?em>熒光屏觀察法所用的設(shè)備是X射線發(fā)生器及其控制設(shè)備；熒光觀察屏；觀察和記錄用的輔助沒(méi)備；防護(hù)及傳送設(shè)備等。[2] 3．X射線電視觀察法 X射線照相法既費(fèi)工時(shí)，又不經(jīng)濟(jì)，不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。...
面積型缺陷是指裂紋、未熔合類缺陷，其檢出率的影響因素包括缺陷形態(tài)尺寸、透照厚度、透照角度、透照幾何條件、源和膠片種類、像質(zhì)計(jì)靈敏度等。雖然如此，一般可以說(shuō)厚試件中的裂紋檢出率較低，但對(duì)薄試件，除非裂紋或未熔合的高度和張口寬度極小，否則只要照相角度適當(dāng)，底片靈敏度符合要求，裂紋檢出率還是足夠高的。（4）適宜檢驗(yàn)厚度較薄的工件而不適宜較厚的工件 因?yàn)?em>檢驗(yàn)厚工件需要高能量的射線探傷設(shè)備。...
(1)、射線照相檢驗(yàn)法的原理：射線能穿透肉眼無(wú)法穿透的物質(zhì)使膠片感光，當(dāng)X射線或r射線照射膠片時(shí)，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛影，由于不同密度的物質(zhì)對(duì)射線的吸收系數(shù)不同，照射到膠片各處的射線能量也就會(huì)產(chǎn)生差異，便可根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來(lái)判別缺陷。...
X射線照相法探傷是利用X射線在物資中的衰減規(guī)律和射線能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光、光化作用的特點(diǎn)，將射線穿過(guò)被探工件照射到X射線膠片上使膠片感光，再經(jīng)過(guò)暗室處理，反映工件內(nèi)部情況的照相底片，利用這種底片在強(qiáng)光燈上分析，從而判斷被探工件內(nèi)部質(zhì)量。評(píng)片尺、像質(zhì)計(jì)、X射線膠片、暗袋、增感屏、鉛字標(biāo)記、顯影藥水、定影藥水、洗片夾等便攜式X射線探傷機(jī)配制顯影、定影藥水（一般應(yīng)提前24小時(shí)配制），做好暗室準(zhǔn)備。...
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