ISO 14594:2014
微電子束分析.電子探測(cè)微觀分析.波長(zhǎng)色散光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ISO 14594:2014

發(fā)布

2014年

發(fā)布單位

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織

替代標(biāo)準(zhǔn)

ISO 14594:2024

當(dāng)前最新

ISO 14594:2024

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ISO/IEC 17025:2005

國際標(biāo)準(zhǔn) 本國際標(biāo)準(zhǔn)給出了確定進(jìn)行電子探針微量分析時(shí)需要考慮的與主光束、波長(zhǎng)光譜儀和樣品相關(guān)的實(shí)驗(yàn)參數(shù)的一般指南。 它還定義了確定束流、電流密度、死區(qū)時(shí)間、波長(zhǎng)分辨率、背景、分析區(qū)域、分析深度和分析體積的程序。 本國際標(biāo)準(zhǔn)旨在使用法向光束入射分析拋光良好的樣品，獲得的參數(shù)只能指示其他實(shí)驗(yàn)條件。 本國際標(biāo)準(zhǔn)不適用于能量色散 X 射線光譜。

專題

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