NF C86-502:1983
電子元件統(tǒng)一質(zhì)量評審體系.紅外發(fā)光二極管，紅外發(fā)光二極管陣列
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diodes arrays.
NF C86-502:1983 中，可能用到以下儀器
點(diǎn)擊查看大圖
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- NF C86-502:1983
- 發(fā)布
- 1983年
- 發(fā)布單位
- 法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會
- 當(dāng)前最新
- NF C86-502:1983
專題
NF C86-502:1983相似標(biāo)準(zhǔn)
BS EN 120002:1993 電子元件質(zhì)量評估協(xié)調(diào)制度規(guī)范 空白詳細(xì)規(guī)格：紅外發(fā)光二極管、紅外發(fā)光二極管陣列
SIS SS CECC 20002-1984 空白詳細(xì)規(guī)范．紅外發(fā)光二極管、紅外發(fā)光二極管陣列
LST EN 120002-2001 空白詳細(xì)規(guī)范 紅外線發(fā)光二極管、紅外線發(fā)光二極管陣列
UNE-EN 120002:1992 空白詳細(xì)規(guī)格：紅外發(fā)射二極管、紅外發(fā)射二極管陣列
DANSK DS/EN 120002:2016 空白詳細(xì)規(guī)格：紅外發(fā)射二極管、紅外發(fā)射二極管陣列