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電子探針x射線顯微分析

本專題涉及電子探針x射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)有17條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子探針x射線顯微分析涉及到分析化學(xué)、詞匯。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子探針x射線顯微分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、物理學(xué)與力學(xué)、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器。

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子探針x射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 20726-2015 微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語(yǔ)
GB/T 32055-2015 微束分析電子探針顯微分析波譜法元素面分析
GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法
GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子探針x射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于電子探針x射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長(zhǎng)分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南
19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
BS ISO 15632:2021 微束分析用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)