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全反射熒光x射線分析

本專題涉及全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)有7條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，全反射熒光x射線分析涉及到分析化學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，全反射熒光x射線分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS K 0181:2021 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
• PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測定硅片表面元素雜質(zhì)

KR-KS，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質(zhì)

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： 全反射x射線熒光分析，全反射x射線 熒光 分析，全反射熒光x射線分析，全反射x射線熒光分析與x射線熒光分析，全反射 x射線熒光，全反射x射線熒光，全反射x射線分析，全反射x熒光分析，全反射x射線熒光儀，全反射x射線熒光光譜，全反射x射線熒光法，熒光x射線分析，X 射線熒光分析，X射線熒光分析，x射線熒光分析與x射線衍射分析，x射線熒光分析技術(shù)，x射線熒光分析 技術(shù)，焦炭x射線熒光分析，x射線熒光分析結(jié)果，+++++x射線熒光分析設(shè)備。

 

可能用到的儀器設(shè)備