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電子探針x射線微量分析
本專題涉及電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)有135條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子探針x射線微量分析涉及到分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、詞匯、航空航天制造用材料、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、金屬材料試驗(yàn)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、醫(yī)療設(shè)備、陶瓷、物理學(xué)、化學(xué)、犯罪行為防范、紙和紙板、無損檢測(cè)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子探針x射線微量分析涉及到化學(xué)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、物理學(xué)與力學(xué)、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、顏料、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子元件綜合、鋼鐵與鐵合金分析方法、光學(xué)測(cè)試儀器、貴金屬及其合金分析方法、工藝美術(shù)品、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器綜合、醫(yī)用射線設(shè)備、特種陶瓷、造紙綜合、犯罪鑒定技術(shù)、紙。
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南
- NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
- NF X21-009:2008 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
- NF ISO 11938:2012 微束分析 電子微探針分析（鑄件微探針） 使用波長色散光譜法的元素映射分析方法
- NF X21-007:2008 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南
- NF X21-013*NF ISO 11938:2012 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).應(yīng)用波長色散光譜學(xué)進(jìn)行元素映射分析方法
- NF X21-002:2007 微光束分析.電子探針微量分析.波長色散光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定指南
- NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格
- FD T16-203:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
- NF EN 1071-4:2006 先進(jìn)技術(shù)陶瓷 陶瓷涂層的測(cè)試方法 第4部分：電子探針微量分析法（MASE）測(cè)定化學(xué)成分
- NF EN 62220-1-2:2007 電子醫(yī)療設(shè)備 - 數(shù)字 X 射線成像設(shè)備的特性 - 第 1-2 部分：量子檢測(cè)效率的確定 - 乳腺 X 線攝影中使用的探測(cè)器
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
- ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南
- ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
- ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
- ISO 23833:2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
- ISO 23833:2006 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
- ISO 11938:2012 微束分析. 電子探針微量分析. 使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法
- ISO/PRF 14595 微束分析“電子探針微量分析”認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）規(guī)范指南
- ISO 14595:2023 微束分析 電子探針微量分析 有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）規(guī)范指南
- ISO 16592:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南
- ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南
- ISO/DIS 14594 微束分析“電子探針微量分析”波長色散光譜實(shí)驗(yàn)參數(shù)確定指南
- ISO 19463:2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南
- ISO 23692:2021 微束分析.電子探針顯微分析.連續(xù)鑄鋼產(chǎn)品中Mn樹枝狀偏析的定量分析
- ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
- ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
- ISO 15632:2002 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對(duì)半導(dǎo)體器件中載流子濃度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)量化的指南
- ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測(cè)量
- ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測(cè)量
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
- JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定
- JIS K 0145:2002 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量刻度的校準(zhǔn)
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
- KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點(diǎn)分析
- KS D ISO 23833:2018 微束分析 - 電子探針微量分析（Epma） - 詞匯
- KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于電子探針微量分析的能量色散X射線光譜儀的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
- KS D ISO 16592-2011(2021) 微束分析－電子探針微量分析－用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南
- KS D ISO 16592:2011 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析－電子探針顯微分析－用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南
- KS D ISO 14595:2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 認(rèn)證參考材料（CRM）規(guī)范指南
- KS D ISO 14594:2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 波長色散光譜實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定指南
- KS D ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
- KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化學(xué)分析-X射線光電子分光器-能量刻度矯正
- KS C IEC 62220-1-2005(2016) 醫(yī)用電氣設(shè)備數(shù)字X射線成像設(shè)備特性第1部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定
- KS C IEC 62220-1-2:2020 醫(yī)療電氣設(shè)備 - 數(shù)字X射線成像設(shè)備的特性 - 第1-2部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定 - 乳房X光檢查中使用的探測(cè)器
- KS C IEC 62220-1-1:2020 醫(yī)療電氣設(shè)備 - 數(shù)字X射線成像設(shè)備的特性 - 第1-1部分:探測(cè)量子效率的確定 - 用于放射成像的探測(cè)器
KR-KS，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點(diǎn)分析
- KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.電子探針微量分析.用波長色散x射線光譜法對(duì)大塊樣品進(jìn)行定量點(diǎn)分析
- KS D ISO 23833-2018 微束分析 - 電子探針微量分析（Epma） - 詞匯
- KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于電子探針微量分析的能量色散X射線光譜儀的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
- KS D ISO 14595-2018(2023) 微束分析.電子探針微量分析.標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)規(guī)范指南
- KS D ISO 14595-2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 認(rèn)證參考材料（CRM）規(guī)范指南
- KS D ISO 14594-2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 波長色散光譜實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定指南
- KS D ISO 14594-2018(2023) 微束分析.電子探針微量分析.波長色散光譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定指南
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準(zhǔn)
- KS C IEC 62220-1-2-2020 醫(yī)療電氣設(shè)備 - 數(shù)字X射線成像設(shè)備的特性 - 第1-2部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定 - 乳房X光檢查中使用的探測(cè)器
- KS C IEC 62220-1-1-2020 醫(yī)療電氣設(shè)備 - 數(shù)字X射線成像設(shè)備的特性 - 第1-1部分:探測(cè)量子效率的確定 - 用于放射成像的探測(cè)器
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
- GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法
- GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析
- GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物礦物的電子探針定量分析方法
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/T 17363.1-2009 黃金制品金含量無損測(cè)定方法.第1部分:電子探針微分析法
- GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
- GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 15247-1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法 靈敏度曲線法(檢量線法)
- GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 2679.11-1993 紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析 電子顯微鏡/X射線能譜法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南
- BS ISO 23833:2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
- BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
- BS ISO 15632:2021 微束分析 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
- BS ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼碳含量的指南
- BS ISO 14595:2023 微束分析 電子探針微量分析 有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) (CRM) 規(guī)范指南
- BS ISO 19463:2018 微束分析 電子探針微量分析儀（EPMA） 執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南
- BS ISO 23692:2021 微束分析 電子探針微量分析 連鑄鋼產(chǎn)品中Mn樹枝狀偏析的定量分析
- BS ISO 11938:2013 微束分析.電子探針顯微分析.使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法
- 20/30393735 DC BS ISO 23692 微束分析 電子探針微量分析 連鑄鋼產(chǎn)品中Mn枝晶偏析的定量分析
- 22/30430960 DC BS ISO 14595 微束分析 電子探針微量分析 有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) (CRM) 規(guī)范指南
- BS ISO 11938:2012 微束分析 電子探針微量分析 使用波長色散光譜進(jìn)行元素圖譜分析的方法
- 23/30425940 DC BS ISO 14594 微束分析 電子探針微量分析 波長色散光譜實(shí)驗(yàn)參數(shù)確定指南
- BS ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量等級(jí)的校準(zhǔn)
- BS ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).二氧化硅厚度測(cè)量
- BS EN 1071-4:2006 高級(jí)工業(yè)陶瓷.陶瓷涂層的試驗(yàn)方法.用電子探針微量分析(EPMA)測(cè)定化學(xué)成分
- DD ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
- BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技術(shù).利用掃描電子顯微鏡和能量色散X射線光譜法分析得出單層碳納米管的表示特征
- BS ISO 14701:2018 跟蹤更改 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測(cè)量
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 110-2000 油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- HB 8422-2014 合金中微量元素電子探針定量分析方法
美國電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ECA TEP 170-1972 微波電子管X射線探測(cè)和測(cè)量的推薦做法
國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 17360-2020 微束分析 鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16592:2015 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
- DIN ISO 15632:2015 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范(ISO 15632-2012)
- DIN EN 62220-1-2:2009 醫(yī)療電氣設(shè)備.數(shù)字X射線成像裝置特性.第1-2部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定.用于X射線照相法的探測(cè)器
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
- DIN EN 62220-1-2:2009-02 醫(yī)用電氣設(shè)備 數(shù)字 X 射線成像設(shè)備的特性 第1-2部分：探測(cè)量子效率的確定 乳腺 X 線攝影中使用的探測(cè)器
- DIN EN 62220-1-1:2021-11 醫(yī)用電氣設(shè)備 數(shù)字 X 射線成像設(shè)備的特性 第1-1部分：探測(cè)量子效率的測(cè)定 射線照相成像中使用的探測(cè)器
- DIN EN 1071-4:2006-05 先進(jìn)技術(shù)陶瓷-陶瓷涂層的測(cè)試方法-第4部分：通過電子探針微量分析（EPMA）測(cè)定化學(xué)成分
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1588-10e1 掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-16 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-16a 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E1588-17 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E1588-07e1 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-07 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-20 通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
國際電工委員會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 62220-1-2:2007 醫(yī)療電氣設(shè)備.數(shù)字X射線成像裝置的特性.第1-2部分:偵探量子效率的測(cè)定.X射線測(cè)定法用探測(cè)器
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- YY/T 0590.2-2010 醫(yī)用電氣設(shè)備 數(shù)字X射線成像裝置特性 第1-2部分：量子探測(cè)效率的測(cè)定 乳腺X射線攝影用探測(cè)器
- YY/T 0457.5-2003 醫(yī)用電氣設(shè)備.光電X射線影像增強(qiáng)器特性.第5部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定
- YY/T 0590.1-2005 醫(yī)用電氣設(shè)備.數(shù)字X射線成像裝置特性.第1部分:量子探測(cè)效率的測(cè)定
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- AS ISO 15472:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 62220-1-1-2015 醫(yī)用電氣設(shè)備. 數(shù)字X射線成像裝置特性. 第1部分: 探測(cè)量子效率的測(cè)定. 射線成像用探測(cè)器(IEC 62220-1-1-2015)
- LST EN 1071-4-2006 高級(jí)技術(shù)陶瓷 陶瓷涂層的測(cè)試方法 第4部分：通過電子探針微量分析（EPMA）測(cè)定化學(xué)成分
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
- DS/EN 61262-5:2013 醫(yī)用電氣設(shè)備 電光 X 射線圖像增強(qiáng)器的特性 第5部分：探測(cè)量子效率的測(cè)定
- DS/EN 1071-4:2006 高級(jí)技術(shù)陶瓷 陶瓷涂層的測(cè)試方法 第4部分：通過電子探針微量分析（EPMA）測(cè)定化學(xué)成分
- DS/EN 62220-1:2004 醫(yī)用電氣設(shè)備 數(shù)字 X 射線成像設(shè)備的特性 第1部分：探測(cè)量子效率的測(cè)定
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 62220-1-2:2007 醫(yī)用電氣設(shè)備.數(shù)字X射線成像裝置的特性.第1-2部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定.乳腺X射線攝影用檢測(cè)器
RU-GOST R，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST IEC 61262-5-2011 醫(yī)用電氣設(shè)備.光電X射線影像增強(qiáng)器特性.第5部分:量子探測(cè)效率的測(cè)定
- GOST R IEC 61262-5-1999 醫(yī)療電氣裝置.光電X射線影像增強(qiáng)器的特性.第5部分:探測(cè)器量子效應(yīng)的測(cè)定
- GOST IEC 62220-1-2011 醫(yī)療電氣設(shè)備.數(shù)字X射線成像裝置的特性.第1部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定
- GOST R IEC 62220-1-3-2013 醫(yī)療電氣設(shè)備. X射線數(shù)字成像設(shè)備的特性. 第1-3部分. 量子探測(cè)效率的測(cè)定
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- YY 0457.5-2003 醫(yī)用電氣設(shè)備.光電X射線影像增強(qiáng)器特性.第5部分:探測(cè)量子效率的測(cè)定
ES-UNE，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 62220-1-1:2015 醫(yī)療電氣設(shè)備 數(shù)字 X 射線成像設(shè)備的特性 第1-1部分：探測(cè)量子效率的測(cè)定 射線照相成像中使用的探測(cè)器
- UNE-EN 1071-4:2006 先進(jìn)技術(shù)陶瓷 陶瓷涂層的測(cè)試方法 第4部分：通過電子探針微量分析(EPMA)測(cè)定化學(xué)成分
AENOR，關(guān)于電子探針x射線微量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 62220-1:2004 醫(yī)用電氣設(shè)備 數(shù)字 X 射線成像裝置的特性 第1部分：探測(cè)量子效率的測(cè)定
