この規(guī)格は,チタン合金の蛍光X線分析方法について規(guī)定する。この方法の適用する成分及び定量範(fàn)囲は,表Iによる。
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現(xiàn)代常規(guī)分析中的一種重要方法?! 『喪? 20世紀(jì)20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應(yīng)用此法從事定量分析,但由于當(dāng)時記錄...
原子發(fā)射與原子吸收光譜法是利用原子的價(jià)電子激發(fā)產(chǎn)生的特征光譜及其強(qiáng)度進(jìn)行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內(nèi)層電子的躍遷來進(jìn)行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發(fā)現(xiàn)的一種電磁輻射,其波長為?0.01?~?10nm。在真空管內(nèi)用電加熱燈絲(鎢絲陰極)產(chǎn)生大量熱電子,熱電子被高壓(萬伏)加速...
X射線熒光分析法(X-ray fluorescence analysis),是對固體或液體試樣進(jìn)行化學(xué)分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強(qiáng)X射線束照射下產(chǎn)生的熒光X射線被已知高點(diǎn)陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據(jù);譜線的強(qiáng)度是定量分析的依據(jù)...
X射線熒光光譜分析法,利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。 [1] 在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現(xiàn)代常規(guī)分析中的一種重要方法...
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