JIS H 1631:2008由日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì) JP-JISC 發(fā)布于 2008-07-20。
JIS H 1631:2008 在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: H64 稀有輕金屬及其合金,在國際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 77.120.50 鈦和鈦合金。
JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測定分析法的最新版本是哪一版?
最新版本是 JIS H 1631:2008 。
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鈦合金的X射線熒光分析方法。本方法適用的組分及定量范圍如表1所示。
利用原級(jí) X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現(xiàn)代常規(guī)分析中的一種重要方法?! 『喪? 20世紀(jì)20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應(yīng)用此法從事定量分析,但由于當(dāng)時(shí)記錄...
原子發(fā)射與原子吸收光譜法是利用原子的價(jià)電子激發(fā)產(chǎn)生的特征光譜及其強(qiáng)度進(jìn)行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內(nèi)層電子的躍遷來進(jìn)行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發(fā)現(xiàn)的一種電磁輻射,其波長為?0.01?~?10nm。在真空管內(nèi)用電加熱燈絲(鎢絲陰極)產(chǎn)生大量熱電子,熱電子被高壓(萬伏)加速...
X射線熒光分析法(X-ray fluorescence analysis),是對固體或液體試樣進(jìn)行化學(xué)分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強(qiáng)X射線束照射下產(chǎn)生的熒光X射線被已知高點(diǎn)陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據(jù);譜線的強(qiáng)度是定量分析的依據(jù)...
X射線熒光光譜分析法,利用原級(jí)X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。 [1] 在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現(xiàn)代常規(guī)分析中的一種重要方法...
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